深圳市禾苗分析儀器有限公司

   深圳市禾苗分析儀器有限公司創(chuàng)建于2012-06-05，經(jīng)歷快速發(fā)展，已經(jīng)發(fā)展成為一家頗具規(guī)模和成效的光譜儀、鍍層測厚儀x2034d9n的公司，是中國商務服務行業(yè)的標桿企業(yè)之一。

   “吸納優(yōu)秀人才、構(gòu)筑專業(yè)團隊、提供高端服務”是禾苗分析的宗旨；“渴望了解客戶的每一個需求，用心服務客戶的每一個環(huán)節(jié)，全力支持客戶的每一步發(fā)展”是禾苗分析的服務理念。深圳市禾苗分析儀器有限公司愿意充分發(fā)揮自身的禾苗HELEEX品牌優(yōu)勢，通過自己勤奮、認真負責、具有開拓性的工作，為廣大客戶提供最完美的RoHS檢測產(chǎn)品及服務。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓て?，進行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   禾苗分析的客戶服務和質(zhì)量控制走在行業(yè)的前列，獲得了世界各地客戶的高度稱贊。我們的目標是與客戶并肩合作發(fā)展，如果您有任何關(guān)于產(chǎn)品設(shè)計的新理念，我們的設(shè)計師將幫助您實現(xiàn)想法；如果您對我們的產(chǎn)品感興趣，請隨時聯(lián)系，我們期待著與您合作。公司官網(wǎng)：heleex