EL缺陷測試儀 組件測試儀 太陽能電池組件測試?                       
(SMT-A / SMT-B / SMT-F)
產(chǎn)品特點:
	?????該設(shè)備專門用于太陽能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測試。
	?????通過模擬太陽光譜光源,對電池組件的相關(guān)電參數(shù)進行測量。
	??????獨有的校正裝置,輸入補償參數(shù),進行自動/手動溫度補償和光強度補償,具備非接觸式自動測溫與溫度修正功能。
	???????基于Windows的操作界面,測試軟件人性化設(shè)計,記錄并顯示測試曲線(I-V曲線、P曲線)和測試參數(shù)(Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp),測試結(jié)果語音提示,序列號自動生成,保存到指定文件夾。
?技術(shù)參數(shù):?
?
型號規(guī)格	SMT-A	SMT-B	SMT-F
光譜范圍	符合IEC60904-9要求(A級)
輻照強度	100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)
輻照不均勻度	≤±2%	≤±3%	≤±2%
輻照不穩(wěn)定度	≤±2%	≤±3%	≤±2%
測試結(jié)果一致性	≤±0.5%	≤±1%	≤±0.5%
電性能測試誤差	≤±1%	≤±2%	≤±1%
單次閃光時間	10ms	10ms	10ms
有效測試面積	1200mm×2000mm
有效測試范圍	10W~300W
測量電壓	1V~10V(分辨率1mV)
測量電流	100mA~20A(分辨率1mA)
測試參數(shù)	Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp
數(shù)據(jù)采集	含8000個數(shù)據(jù)采集點
應(yīng)用領(lǐng)域:
專門用于太陽能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測試。
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